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一种半导体硅片入库光学检测操作台 

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申请/专利权人:江苏道达智能科技有限公司

摘要:本发明公开一种半导体硅片入库光学检测操作台,涉及半导体生产技术领域;而本发明包括梯级检测台,梯级检测台的一端装配有第一输送线,梯级检测台的中部装配有第二输送线;通过在第一输送线、第二输送线及第三输送线之间设置旋转机构及翻边机构,旋转机构通过一个料台使半导体硅片旋转一圈,供第一光学检测仪完成单面拍照及识别检测,翻转机构对单面检测后的半导体硅片进行翻边处理,旋转机构通过另一个转台使半导体硅片再次旋转一圈,供第二光学检测仪完成另一面的拍照及识别检测,从而实现半导体硅片的双面自动检测,以及批量半导体硅片的自动流水线检测,提高半导体硅片的检测效率,以便于快速入库,降低人工作业时间,同时降低检测成本。

主权项:1.一种半导体硅片入库光学检测操作台,包括梯级检测台1,其特征在于:所述梯级检测台1的一端装配有第一输送线11,所述梯级检测台1的中部装配有第二输送线13,所述第一输送线11与第二输送线13之间装配有流通通道12,所述梯级检测台1远离第一输送线11的一端装配有第三输送线14,所述梯级检测台1的两端均设有料台19,其中一个所述料台19位于第一输送线11与流通通道12之间,另一个所述料台19位于第二输送线13与第三输送线14之间,两个所述料台19的位置处均设有旋转机构2,所述旋转机构2上设有限位机构4,所述第一输送线11与流通通道12之间设有翻边机构6。

全文数据:

权利要求:

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