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申请/专利权人：厦门优迅芯片股份有限公司

摘要：本发明公开了一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法，其包括依次进行的步骤一、步骤二和步骤三，其中，步骤三包括：由ATE测试机先将ONU光驱芯片配置为突发闭环工作模式；然后，ATE测试机在预设合格突发响应时间内给ONU光驱芯片的BEN引脚输入周期性脉冲使能信号；接着，ATE测试机控制ONU光驱芯片的BEN引脚电平维持高电平，且ATE测试机获取此时的偏置电流值Ib2，并对偏置电流值Ib2进行判断。本发明通过现有的ATE测试机和相应的外围测试电路就能对ONU光驱芯片突发响应时间是否合格进行测试，测试硬件要求低。

主权项：1.一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法，其特征在于：包括如下依次进行的步骤：步骤一：将ONU光驱芯片与ATE测试机和外围测试电路连接，外围测试电路使得ONU光驱芯片处于闭环工作状态；步骤二：启动ONU光驱芯片，由ATE测试机将ONU光驱芯片配置为连续闭环工作模式，且ONU光驱芯片的BEN模块的基准电流值设定为额定基准电流值；然后ONU光驱芯片在工作预设合格连续响应时间后，由ATE测试机读取此时ONU光驱芯片的寄存器中的BIASDAC值并换算成相应的偏置电流值Ib1；若是该Ib1≥A，则判定ONU光驱芯片异常，测试结束；若是该Ib1A，则判定ONU光驱芯片正常并进入步骤三；A为ONU光驱芯片在连续闭环工作模式下正常工作时的最大偏置电流值；步骤三：由ATE测试机先将ONU光驱芯片配置为突发闭环工作模式，且ONU光驱芯片的BEN模块的基准电流值设定为额定基准电流值；然后，ATE测试机在预设合格突发响应时间内给ONU光驱芯片的BEN引脚输入周期性脉冲使能信号；接着，ATE测试机控制ONU光驱芯片的BEN引脚电平维持高电平；再接着，ATE测试机读取此时ONU光驱芯片的寄存器中的BIASDAC值并换算成相应的偏置电流值Ib2；若是该Ib2≥B，则判定ONU光驱芯片异常，测试结束；若是该Ib2B，则判定ONU光驱芯片的突发响应时间初步合格；B为ONU光驱芯片在突发闭环工作模式下正常工作时的最大偏置电流值；所述的一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法还包括依次进行的步骤四、步骤五和步骤六；在步骤三中，若是Ib2B，则判定ONU光驱芯片的突发响应时间初步合格并进入步骤四；步骤四：由ATE测试机将ONU光驱芯片配置为连续闭环工作模式，同时将ONU光驱芯片的BEN模块的基准电流值设置为测试基准电流值，测试基准电流值为额定基准电流值的80%~97%；然后在ONU光驱芯片工作预设合格连续响应时间后，ATE测试机读取此时ONU光驱芯片的寄存器中的IBIAS值并换算成相应的偏置电流值Ib3；步骤五：由ATE测试机先将ONU光驱芯片配置为突发闭环工作模式；然后，ATE测试机在预设合格突发响应时间内给ONU光驱芯片的BEN引脚输入周期性脉冲使能信号；接着，ATE测试机控制ONU光驱芯片的BEN引脚电平为高电平；再接着，ATE测试机读取此时ONU光驱芯片的寄存器中的IBIAS值并换算成相应的偏置电流值Ib4；步骤六：计算Ib4和Ib3的差值的绝对值；若是|Ib4-Ib3|C，则判定ONU光驱芯片异常，并结束测试；若是|Ib4-Ib3|≥C，则判定ONU光驱芯片的突发响应时间最终合格，并结束测试；C为ONU光驱芯片在BEN模块基准电流值为测试基准电流值且工作模式为连续闭环模式下正常工作时的偏置电流值与ONU光驱芯片在BEN模块基准电流值为测试基准电流值且工作模式为突发闭环模式下正常工作时的偏置电流值的差值的绝对值。

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