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申请/专利权人：晟合微电子(肇庆)有限公司

摘要：本发明涉及一种IC模组开路或短路检测装置及检测方法，检测装置的检测电路的双向开关s1a的中间端连接发光二极管L1的正极，双向开关s1a的第一空端连接P1端，双向开关s1a的第二空端连接电阻R1的第一端，电阻R1的第二端连接第一引出端；双向开关s1b的中间端连接发光二极管L1的负极，双向开关s1b的第一空端连接P1端，双向开关s1b的第二空端连接电阻R1的第一端；发光二极管L2的正极连接P2端，发光二极管L2的负极连接电阻R2的第一端，电阻R2的第二端连接第二引出端。本发明不仅能用于检测IC模组的封装部分是否开路，还能够用于检测IC模组的连接器部分是否短路，减少检测成本。

主权项：1.一种IC模组开路或短路检测装置，其特征在于：具有检测模块，所述检测模块包括多组检测电路，所述检测电路包括发光二极管L1、发光二极管L2、双向开关s1a、双向开关s1b、电阻R1、电阻R2；双向开关s1a的中间端连接发光二极管L1的正极，双向开关s1a的第一空端连接P1端，双向开关s1a的第二空端连接电阻R1的第一端，电阻R1的第二端连接第一引出端；双向开关s1b的中间端连接发光二极管L1的负极，双向开关s1b的第一空端连接P1端，双向开关s1b的第二空端连接电阻R1的第一端；发光二极管L2的正极连接P2端，发光二极管L2的负极连接电阻R2的第一端，电阻R2的第二端连接第二引出端；所述IC模组具有封装部分，所述封装部分包括多个PORT引脚，所述PORT引脚连接有相应的保护电路，所述保护电路包括二极管D1，二极管D1的正极连接至PORT引脚，所述二极管D1的负极连接VDD端；采用检测模块检测IC模组的封装部分是否开路时，所述双向开关s1a的开关打向第一空端使得双向开关s1a的中间端与P1端连通，所述双向开关s1b的开关打向第二空端使得双向开关s1b的中间端与电阻R1连通，第一引出端连接PORT引脚；所述IC模组具有连接器部分，所述连接器部分包括多个PIN引脚；采用检测模块检测IC模组的连接器部分是否短路时，所述双向开关s1a的开关打向第二空端使得双向开关s1a的中间端与电阻R1连通，所述双向开关s1b的开关打向第一空端使得双向开关s1b的中间端与P1端连通；第一引出端连接PIN引脚，第二引出端连接另一PIN引脚。

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