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申请/专利权人：苏州通富超威半导体有限公司
摘要：本申请公开了一种测温装置，该测温装置包括：基座、多个测温组件，其中，多个测温组件设置于基座上，包括测温底座和测温部，测温底座设置有第一容置部，测温部的部分区域活动设置于第一容置部内；其中，被测物置于测温装置上并朝向基座移动，以使所有测温部抵顶被测物后，多个测温部测量被测物上多个点位的温度。上述方案，能够提高产品测温的效率和精确性。
主权项：1.一种测温装置，其特征在于，包括：基座；多个测温组件，设置于所述基座上，包括测温底座和测温部；其中，所述测温底座设置有第一容置部，所述测温部的部分区域活动设置于所述第一容置部内；其中，被测物置于所述测温装置上并朝向所述基座移动，以使所有所述测温部抵顶所述被测物后，多个所述测温部测量所述被测物上多个点位的温度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州通富超威半导体有限公司 一种测温装置
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