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申请/专利权人：重庆大学
摘要：本发明公开一种用于近场测量Ez与Ex的低频复合电场探头包括用于探测法向电场Ez的法向电场探头Ez‑probe，以及用于探测切向电场Ex的切向电场探头Ex‑probe；所述法向电场探头Ez‑probe包括传感部分SEz、传输线ZEz和SMA接头；所述传感部分SEz包括Top‑layer、Mid‑layer1和Mid‑layer2；所述切向电场探头Ex‑probe包括传感部分SEx、传输线ZEx、差分放大电路和SMA接头；所述传感部分SEx包括Mid‑layer3、Mid‑layer4和Bottom‑layer；本发明可以实现使用频谱分析仪或带有FFT功能的示波器等简易测量设备而非矢量网络分析仪同时对法向与切向两个方向电场的测量，降低测量成本，减少测量时间。
主权项：1.一种用于近场测量Ez与Ex的低频复合电场探头，其特征在于：包括用于探测法向电场Ez的法向电场探头Ez-probe，以及用于探测切向电场Ex的切向电场探头Ex-probe。所述法向电场探头Ez-probe包括传感部分SEz、传输线ZEz和SMA接头；所述传感部分SEz包括Top-layer、Mid-layer1和Mid-layer2；其中，Top-layer、Mid-layer2为屏蔽层，Mid-layer1为信号层；所述切向电场探头Ex-probe包括传感部分SEx、传输线ZEx、差分放大电路和SMA接头；所述传感部分SEx包括Mid-layer3、Mid-layer4和Bottom-layer；其中，Mid-layer3和Bottom-layer为屏蔽层，Mid-layer4为信号层。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 重庆大学 一种用于近场测量Ez与Ex的低频复合电场探头
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