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申请/专利权人：天津津航技术物理研究所
摘要：本申请提出一种一体红外广角畸变测试方法及测试装置，其中，测试方法通过设置在靶标透光孔内的发热电阻通电在待测红外成像装置上成像形成点阵图像，并调节待测红外成像装置的位置，使得与置于靶标中心孔内的发热电阻对应的成像光点与成像中心重叠，且靶标上的两个垂直的透光组与待测红外成像装置的十字标记重叠，读取成像中心与相邻的成像光点的质点之间的距离为标准距离，读取边缘两个相邻的成像光点的质点之间的距离，为边缘距离，通过边缘距离和标准距离得到畸变率，本申请的通过各发热电阻形成的所述点阵图像计算畸变率，测试装置相较于平行光管、转台等测试设备，成本较低，结构简单。
主权项：1.一种一体红外广角畸变测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S100.在待测红外成像装置8上成像形成点阵图像，所述点阵图像包括多个成像光点72，且所述点阵图像的中心为成像中心71；所述点阵图像通过点阵光源在所述待测红外成像装置8上成像得到，所述点阵光源包括多个发热电阻6，各所述发热电阻6通电后在所述待测红外成像装置8上形成所述成像光点72；所述发热电阻6设于靶标1的透光孔11内，所述靶标1上设有四组呈米字型的透光组，各所述透光组上均匀分布有多个透光孔11，不同所述透光组的相邻两个所述透光孔11之间的间距相同，四个所述透光组交点处的透光孔11为中心孔12；S200.调节所述待测红外成像装置8的位置，使得与置于所述中心孔12内的所述发热电阻6对应的所述成像光点72与所述成像中心71重叠，且四个所述透光组中相互垂直的X方向透光组13和Y方向透光组14与所述待测红外成像装置8的十字标记73重叠；S300.读取所述成像中心71与中心成像光点72的质心之间的距离，记为标准距离；S400.读取边缘的两个相邻的所述成像光点72质点之间的距离，记为边缘距离；S500.根据所述标准距离和所述边缘距离，计算得到所述待测红外成像装置8的畸变率。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 天津津航技术物理研究所 一种一体红外广角畸变测试方法及测试装置
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