买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:江苏西欧电子有限公司
摘要:本发明公开了一种用于电能表原料加工的光滑处理检测装置,涉及电能表检测技术领域,包括两组支架,两组支架之间设置有固定架,固定架的顶端设置有吊运组件,吊运组件的底部设置有光滑处理组件,光滑处理组件的一侧设置有传输带,传输带的一侧设置有测试台,测试台与传输带的顶端设置有辅助组件,测试台的顶端设置有控制单元。本发明通过设置光滑处理组件,使得能够实现利用电解抛光的技术对金属原料进行表面光滑抛光,在设定的电压下精确调节电解抛光电流,有效地改善金属表面的光滑度和光泽,减少或消除机械加工带来的微观裂纹和应力,同时能够减少刺激性气体的外泄、降低了噪音的目的,使得抛光操作方便、提高了工作效率。
主权项:1.一种用于电能表原料加工的光滑处理检测装置,包括两组支架(1),其特征在于,两组所述支架(1)之间设置有固定架(2),所述固定架(2)的顶端设置有吊运组件(3),所述吊运组件(3)的底部设置有光滑处理组件(4),所述光滑处理组件(4)的一侧设置有传输带(5),所述传输带(5)的一侧设置有测试台(6),所述测试台(6)与传输带(5)的顶端设置有辅助组件(7),所述测试台(6)的顶端设置有控制单元(8);所述辅助组件(7)包括安装于所述传输带(5)顶端的两组衔接杆(701),所述衔接杆(701)的顶端设置有两组分光镜(702),其中一组所述分光镜(702)的一侧设置有激光器(703);所述辅助组件(7)还包括安装于测试台(6)顶端的半导体器件(704),所述半导体器件(704)的一侧设置有相机(705);所述控制单元(8)用于控制光滑处理检测装置的运行和监控,并负责接收和处理相机(705)采集到的数据利用设定的模式进行电能表原料的表面光滑度检测;所述控制单元(8)包括监控预警单元(801)、数据获取单元(802)、数据接收单元(803)、数字图像获取单元(804)及光滑检测单元(805);其中,所述监控预警单元(801)、所述数据获取单元(802)、所述数据接收单元(803)、所述数字图像获取单元(804)及所述光滑检测单元(805)之间依次连接;所述监控预警单元(801),用于监控控制光滑处理检测装置的整体运行,实时监测更改过程中的各项参数;所述数据获取单元(802),用于收集所述相机(705)采集到的图像数据对金属原料表面进行记录便于后续的比对,并通过所述分光镜(702)进行光束获取;所述数据接收单元(803),用于利用所述分光镜(702)划分所述激光器(703)发射的光束,形成参考光与金属原料的物光,并使用所述半导体器件(704)接收两组光束获取检测数据;所述数字图像获取单元(804),用于对所述半导体器件(704)接收的检测数据进行处理得到激光数字全息图,并利用衍射理论获取金属原料的激光数字全息图的再现像图;所述光滑检测单元(805),用于叠加激光数字全息图与再现像图得到干涉条纹,根据干涉条纹的变化判断金属表面的光滑度,并构建金属原料与光束之间的光滑关系模型获取粗糙位置完成光滑检测;所述数字图像获取单元(804)包括数字全息图获取模块(8041)、数字全息图处理模块(8042)、数字全息图去噪模块(8043)及再现像图获取模块(8044);其中,所述数字全息图获取模块(8041)、所述数字全息图处理模块(8042)、所述数字全息图去噪模块(8043)及所述再现像图获取模块(8044)之间依次连接;所述数字全息图获取模块(8041),用于利用所述半导体器件(704)接收所述激光器(703)的反射信号转化为电信号进行采集,并通过数字全息图算法将激光反射信号转化为数字全息图;所述数字全息图处理模块(8042),用于对数字全息图的强度做二维变换获取全息图的频谱,并在空间域内对频谱进行衍射传播;所述数字全息图去噪模块(8043),用于利用退偏器模拟退偏性能对数字全息图进行偏光振处理,降低激光反射信号的相干程度,对数字全息图进行去噪;所述再现像图获取模块(8044),用于使用角谱衍射传播技术将数字全息图进行逆向反射传至物平面获得金属原料的再现图像;所述光滑检测单元(805)包括干涉条纹获取模块(8051)、光滑度判断模块(8052)、关系模型构建模块(8053)及粗糙位置定位模块(8054);其中,所述干涉条纹获取模块(8051)、所述光滑度判断模块(8052)、所述关系模型构建模块(8053)及所述粗糙位置定位模块(8054)依次连接;所述干涉条纹获取模块(8051),用于叠加数字全息图与再现图像产生干涉条纹,所述干涉条纹表示金属原料表面的结构差异引起的光波相位变化;所述光滑度判断模块(8052),用于分析干涉条纹的分布、密度和形态判断金属原料表面的光滑度;所述关系模型构建模块(8053),用于根据干涉条纹与金属原料的对比建立关系模型描述金属原料的表面光滑度与激光照射产生的光学响应之间的关系;所述粗糙位置定位模块(8054),用于利用关系模型与成像定位算法对金属原料的粗糙区域进行定位;所述利用关系模型与成像定位算法对金属原料的粗糙区域进行定位包括:利用关系模型对金属原料的表面进行特征提取判断粗糙位置的区域范围,预测粗糙度的分布位置;根据成像定位算法引入定位系数判断分布位置内的重叠面积,并利用泰勒公式对重叠面积进行位置点跳数连续化;遍历全部位置点的连续化距离,估算位置点的最小均方差估计粗糙区域的位置,并利用优化算法对粗糙点进行定位求解;所述遍历全部位置点的连续化距离,估算位置点的最小均方差估计粗糙区域的位置,并利用优化算法对粗糙点进行定位求解包括:遍历全部位置点的跳数连续化并将位置信息与初始跳数值发送至关系模型内的所有位置点,关系模型接收位置点后将其跳数值增加预设数;根据跳数值增加的结果获得位置点的最小跳数,并估算位置点到原始位置信息间的距离,判断位置点的平均单跳距离;利用单跳距离计算位置点的最小均方差结果,并根据方差结果估计粗糙区域的位置,利用优化算法的公式求解粗糙点的定位;其中,所述位置点的平均单跳距离的计算公式为: ;式中,L表示位置点的平均单跳距离,与表示位置点i与位置点j在关系模型内的实际坐标位置,表示位置点i与j之间的最小跳数;所述粗糙区域的位置的计算公式为: ;式中,D表示粗糙区域的位置点,L表示位置点的平均单跳距离,表示位置点i与位置点j之间的最小跳数,S表示最小均方差结果。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 江苏西欧电子有限公司 一种用于电能表原料加工的光滑处理检测装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。