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摘要：本发明提供一种采样时间戳标记方法、MCU系统及存储介质。其中的采样时间戳标记方法，适用于MCU系统，包括：同步同源启动MCU中内置的第一定时器、第二定时器、第三定时器，第一定时器按照第一计数步长和第一计数周期进行计数并触发ADC采样及执行捕获秒脉冲信号的动作，第二定时器按照第二计数步长和第二计数周期进行计数，第三定时器按照预设的定时中断周期产生定时中断；当捕获到秒脉冲信号时，分别获取第一定时器和第二定时器的当前计数值，等到第三定时器产生定时中断时，根据获取的两个计数值计算秒脉冲信号的被捕获时间，据此对对应的采样点数据标记时间戳，以此实现了一种尽可能消除由MCU本身所带来的时间戳标记误差的采样时间戳标记技术方案。
主权项：1.一种采样时间戳标记方法，适用于MCU系统，其特征在于，包括以下具体步骤：同步同源启动MCU中内置的第一定时器、第二定时器、第三定时器，所述第一定时器按照第一计数步长和第一计数周期进行计数并触发ADC采样及执行捕获秒脉冲信号的动作，所述第二定时器按照第二计数步长和第二计数周期进行计数，所述第三定时器按照预设的定时中断周期产生定时中断；当所述第一定时器捕获到所述秒脉冲信号时，分别获取所述第一定时器和所述第二定时器的当前计数值，得到第一计数数据和第二计数数据；等到所述第三定时器在当前时段产生所述定时中断时，根据所述第一计数数据和所述第二计数数据，计算所述秒脉冲信号的被捕获时间，并根据所述被捕获时间对所述秒脉冲信号被捕获时对应的采样点数据标记时间戳；其中，所述第二计数步长大于所述第一计数步长，所述第二计数周期大于所述第一计数周期，所述定时中断周期大于所述第一计数周期且小于所述第二计数周期。
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百度查询： 佳源科技股份有限公司 采样时间戳标记方法、MCU系统及存储介质
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