买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
摘要:本申请公开了一种基于重构发射率模型的多光谱真温解算方法,属于多光谱辐射测温领域,包括:获取不同波长下的亮温值,并根据普朗克辐射定律得到亮温公式,确定被测目标的真温取值范围;选取真温取值范围内的任意温度点,通过亮温公式计算出任意温度点在不同波长下的发射率值,并对各所述发射率值进行归一化处理;基于泰勒公式,通过多项式函数的通用表达形式表征各归一化发射率值的波长函数,并通过正交匹配追踪算法进行发射率模型重构;通过重构后的发射率模型和亮温公式进行多光谱真温解算。本申请提供的方法无需假定发射率模型,只需进行发射率模型重构,并利用重构后的发射率模型求解出高精度的真温值。可应用于任何物体的表面真温解算。
主权项:1.一种基于重构发射率模型的多光谱真温解算方法,其特征在于,包括:获取不同波长下的亮温值,并根据普朗克辐射定律得到亮温公式,根据所述亮温值和所述亮温公式确定被测目标的真温取值范围;选取真温取值范围内的任意温度点,通过所述亮温公式计算出所述任意温度点在不同波长下的发射率值,并对各所述发射率值进行归一化处理,得到相应的归一化发射率值;基于泰勒公式,通过多项式函数的通用表达形式表征各所述归一化发射率值的波长函数;根据所述通用表达形式和各所述归一化发射率值,通过正交匹配追踪算法进行发射率模型重构;通过重构后的发射率模型和所述亮温公式进行多光谱真温解算。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 哈尔滨工业大学 一种基于重构发射率模型的多光谱真温解算方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。