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一种PLC系统软硬件自适应测试方法及系统专利

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申请/专利权人:中电智能科技有限公司

申请日:2024-12-31

公开(公告)日:2025-02-07

公开(公告)号:CN119396128A

专利技术分类:.电检验式监视[2006.01]

专利摘要:本申请公开了一种PLC系统软硬件自适应测试方法及系统,涉及PLC、可编程控制技术,包括,解析被测PLC系统配置和测试序列描述文件,生成被测PLC系统的配置参数序列;确定每个测试项的预计结果数据,生成测试数据集;遍历所述动态测试单元集合中的每个最小可执行动态测试单元,根据测试数据集生成测试程序,以及在测试程序中设置被测点、记录变量集;确定最小可执行动态测试单元的执行顺序;生成最小可执行动态测试单元调度策略;加载所有最小可执行动态测试单元,完成动态测试状态机初始化;根据所述执行顺序,依次逐个执行最小可执行动态测试单元。本申请能够提高测试效率、灵活性和适应性,极大提高测试系统的灵活性和便携性。

专利权项:1.一种PLC系统软硬件自适应测试方法,其特征在于,包括:解析被测PLC系统配置和测试序列描述文件,生成被测PLC系统的配置参数序列;根据配置参数序列,提取被测PLC系统的测试项特征值,并根据所述测试项特征值,建立最小可执行动态测试单元集合,以及,提取测试项输入和输出要求,以确定每个测试项的预计结果数据,生成测试数据集;遍历所述动态测试单元集合中的每个最小可执行动态测试单元,根据测试数据集生成测试程序,以及在测试程序中设置被测点、记录变量集;判断每个最小可执行动态测试单元对测试资源的依赖程度,并按照依赖程度大小对所有最小可执行动态测试单元排序,将排序结果作为最小可执行动态测试单元的执行顺序;计算每个最小可执行动态测试单元应用需求资源的分布情况,生成最小可执行动态测试单元调度策略;加载所有最小可执行动态测试单元,完成动态测试状态机初始化;根据所述执行顺序,依次逐个执行最小可执行动态测试单元,记录被测点记录变量集的变化数据,在测试过程中遇到异常的情况下,结束当前最小可执行动态测试单元,执行下一个最小可执行动态测试单元,直至完成测试获得测试结果。

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