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申请/专利权人:株式会社半导体能源研究所
申请日:2005-06-10
公开(公告)日:2006-01-04
公开(公告)号:CN1716539A
专利技术分类:......产生离子注入的[2006.01]
专利摘要:本发明提供一种具有使用大量生产上可多件提取的大面积衬底并且均匀掺入杂质元素的装置的半导体器件制造装置。本发明的一个特征为:将离子流的截面取为线状或正方形,而且使大面积衬底保持对离子流倾斜规定的倾斜角θ不变,同时使该衬底往垂直于离子流的纵向的方向移动。本发明中,通过改变倾斜角调整离子束的入射角。使大面积衬底对水平面为倾斜状态,从而能使离子流纵向宽度小于衬底1条边的长度。
专利权项:1、一种掺杂装置,其特征在于,包括产生与离子流流向垂直的方向的截面为线状或长方形的所述离子流的单元,对衬底照射离子流的单元,以及一面使所述衬底为对垂线倾斜的姿态保持不变,一面使所述衬底进行单向移动的衬底位置控制单元,对所述进行移动且姿态倾斜的衬底,照射所述离子流。
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