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摘要：一种基于皮尔斯振荡器的低功耗晶振电路的工艺角测试方法，IPC分类号为G01R3128，其特征在于：所述低功耗晶振电路包括上电复位电路、稳压电路、Pierce‑CMOS晶振电路、输出缓冲整形电路；将奇数个Pierce‑CMOS晶振电路串联构成环形振荡器，每一个Pierce‑CMOS晶振电路的输出端口作所述环形振荡器的输出端口，以输出振荡信号；在每个周期中以高电平和低电平测量振荡信号的周期和振荡信号的持续时间；和基于所述振荡信号的周期和所述振荡信号在每个周期中处于高电平和低电平的持续时间，确定所述Pierce‑CMOS晶振电路的工艺角，工艺角包括快NFET和快PFETff、慢NFET和慢PFETss、慢NFET和快PFETsf及快PFET和慢NFETfs。
主权项：1.一种基于皮尔斯振荡器的低功耗晶振电路的工艺角测试方法，其特征在于：所述低功耗晶振电路包括上电复位电路、稳压电路、Pierce-CMOS晶振电路、输出缓冲整形电路；将奇数个Pierce-CMOS晶振电路串联构成环形振荡器，每一个Pierce-CMOS晶振电路的输出端口作所述环形振荡器的输出端口，以输出振荡信号；在每个周期中以高电平和低电平测量振荡信号的周期和振荡信号的持续时间；和基于所述振荡信号的周期和所述振荡信号在每个周期中处于高电平和低电平的持续时间，确定所述Pierce-CMOS晶振电路的工艺角。
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百度查询： 南通大学 基于皮尔斯振荡器的低功耗晶振电路及其工艺角测试方法
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