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申请/专利权人：成都佰维存储科技有限公司

摘要：本申请实施例提供了一种UFS寿命测试方法、装置、电子设备及介质，属于自动化测试技术领域。其中方法包括：执行UFS寿命测试，得到UFS寿命测试数据；基于预设操作系统确定检测接口，通过检测接口查询UFS寿命测试数据；判断UFS寿命测试数据是否达到UFS综合性能判别条件、UFS驱动判别条件、存储单元新增坏块数量判别条件；若UFS综合性能判别条件、UFS驱动判别条件、存储单元新增坏块数量判别条件均达到，则UFS寿命测试通过。通过本申请提供的UFS寿命测试方法，可以客观评价UFS测试的各个阶段的测试结果是否可靠，提高UFS寿命测试的准确性。

主权项：1.一种UFS寿命测试方法，其特征在于，所述方法包括：执行UFS寿命测试，得到UFS寿命测试数据；所述UFS寿命测试数据包括：UFS综合性能测试、UFS驱动测试和存储单元新增坏块测试；基于预设操作系统确定检测接口，通过所述检测接口查询所述UFS寿命测试数据；判断所述UFS寿命测试数据是否达到UFS综合性能判别条件、UFS驱动判别条件、存储单元新增坏块数量判别条件；若所述UFS综合性能判别条件、所述UFS驱动判别条件、所述存储单元新增坏块数量判别条件均达到，则所述UFS寿命测试通过；其中，所述UFS综合性能测试判别条件包括：当UFS写入量达到标称值上限时，所述检测接口是否检测到异常；执行UFS综合性能测试，包括：向UFS写入数据，并获取UFS写入量；所述UFS寿命测试数据包括：所述UFS写入量；判断所述UFS寿命测试数据是否达到所述UFS综合性能判别条件，包括：调用所述检测接口将所述UFS写入量与所述标称值上限进行比较，若确定所述UFS写入量数据与所述标称值上限相等，且所述检测接口未检测到异常，则达到UFS综合性能判别条件；其中，所述UFS综合性能测试判别条件包括：UFS寿命测试数据是否存在校验关键数据；所述校验关键数据包括：错误纠正码、不可纠正错误码和循环冗余校验；判断所述UFS寿命测试数据是否达到所述UFS综合性能判别条件，包括：调用所述检测接口获取所述UFS寿命测试数据的错误信息；若所述错误信息不包含所述校验关键数据，则确定所述UFS寿命测试数据达到所述UFS综合性能判别条件；其中，所述存储单元新增坏块数量判别条件为：所述存储单元的新增坏块数量和UFS的总存储容量的比例是否小于等于预设比例；执行所述存储单元新增坏块测试，包括：UFS启动时，对所述存储单元进行扫描操作，检测和标记存储单元中的坏块，统计所述存储单元的新增坏块数量；所述UFS寿命测试数据包括：所述存储单元的新增坏块数量；判断所述UFS寿命测试数据是否达到所述存储单元新增坏块数量判别条件，包括：判断所述存储单元的新增坏块数量和所述UFS的总存储容量的比例是否小于等于所述预设比例；若所述存储单元新增坏块数量和所述UFS的总存储容量的比例小于等于所述预设比例，则确定所述UFS寿命测试数据达到所述存储单元新增坏块数量判别条件。

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