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申请/专利权人：北京理工大学;北京航宇天穹科技有限公司
摘要：本公开提出一种空间圆位姿测量系统、空间圆位姿测量方法及装置，空间圆位姿测量方法应用于空间圆位姿测量系统；空间圆位姿测量方法包括：获取第一相机采集的目标图像，目标图像包含待测空间圆的多个边缘孔成像；针对多个边缘孔成像中的任意一个边缘孔成像，将边缘孔成像的预设位置确定为边缘孔成像的特征点；确定第一定位孔投影点和第二定位孔投影点；基于第一定位孔投影点、第二定位孔投影点、短轴估计点以及多个特征点，进行椭圆拟合处理，得到椭圆曲线；基于椭圆曲线，确定待测空间圆位姿测量结果。本公开实施例能够在对接过程中实现大型回转体部件对接面位姿参数的高精度测量。
主权项：1.一种空间圆位姿测量系统，其特征在于，所述空间圆位姿测量系统包括：相对设置在第一待测空间圆和第二待测空间圆，以及设置在所述第一待测空间圆和所述第二待测空间圆之间的第一相机、第二相机和第三相机；所述第一待测空间圆包括环绕设置在圆形边缘的第一组边缘孔，所述第二待测空间圆包括环绕设置在圆形边缘的第二组边缘孔；所述第一相机和所述第二相机的光轴夹角为预设角度；所述第一相机和所述第三相机的光轴夹角为所述预设角度；所述第一相机、所述第二相机以及所述第三相机分别设置在不同的象限内；所述第一相机、所述第二相机和所述第三相机分别采集视野范围内的目标图像，任一相机采集的目标图像包含所述相机视野范围内的第一边缘孔成像和第二边缘孔成像；每个目标图像用于空间圆位姿测量。
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百度查询： 北京理工大学 北京航宇天穹科技有限公司 空间圆位姿测量系统、空间圆位姿测量方法及装置
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