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一种集成电路测试装置 

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申请/专利权人:徐州市沂芯微电子有限公司

摘要:本实用新型属于集成电路测试技术领域,具体的说是一种集成电路测试装置,包括底座和控制器,所述控制器依次与驱动器一、驱动器二、压力传感器一、和压力传感器二电连接,其中控制器的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定;本实用新型通过将集成电路元件放置在测试台上,通过驱动器运行夹紧块夹紧集成电路元件,且压力传感器一检测夹紧块对集成电路元件所施加的压力,在压力达到预定数值时,控制驱动器一停止运行,避免压力过大损坏集成电路元件。

主权项:1.一种集成电路测试装置,包括底座1,其特征在于:所述底座1的顶部中心处固定连接有测试台2,所述测试台2的顶部安装有夹持组件3,所述夹持组件3包括滑槽一31,所述滑槽一31开设在测试台2的顶部,所述滑槽一31的内部转动连接有双向丝杠一32,所述测试台2的侧壁固定连接有驱动器一4,所述驱动器一4的驱动端与双向丝杠一32的一端固定连接,所述底座1的表面开设有滑槽二5,所述底座1上安装有测试组件6,所述测试组件6包括两个安装座61,所述安装座61对称滑动安装在滑槽二5的两侧。

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