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摘要：本发明公开了基于关键门的电路路径级NBTI老化预测方法及装置，所述方法包括：构建训练集和测试集；利用训练集对线性回归模型进行训练，训练过程中模型的输入是关键子电路的第0年和第1年的老化延时数据，模型的输出是关键子电路的第2年至第N年的老化延时数据，N为大于2的正整数；训练完成后，利用测试集对训练好的线性回归模型进行验证，验证过程中模型的输入是关键路径的第0年和第1年的老化延时数据，模型的输出是关键路径的第2年至第N年的老化延时数据；测试完成后，将待预测的关键路径的第0年和第1年的老化延时数据输入到最终的线性回归模型，预测第2年至第N年的老化延时数据；本发明的优点在于：同时保障预测精度和速度。
主权项：1.基于关键门的电路路径级NBTI老化预测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤一：构建训练集和测试集；步骤二：利用训练集对线性回归模型进行训练，训练过程中模型的输入是关键子电路的第0年和第1年的老化延时数据，模型的输出是关键子电路的第2年至第N年的老化延时数据，N为大于2的正整数；步骤三：训练完成后，利用测试集对训练好的线性回归模型进行验证，验证过程中模型的输入是关键路径的第0年和第1年的老化延时数据，模型的输出是关键路径的第2年至第N年的老化延时数据，N为大于2的正整数；步骤四：测试完成后得到最终的线性回归模型，将待预测的关键路径的第0年和第1年的老化延时数据输入到最终的线性回归模型，预测其第2年至第N年的老化延时数据。
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百度查询： 安徽理工大学 基于关键门的电路路径级NBTI老化预测方法及装置
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