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申请/专利权人：中国科学技术大学
摘要：本发明提供了一种X射线掠入射衍射的原位检测系统及检测方法，所述原位检测系统包括粉末X射线衍射仪、原位检测装置和电化学工作站；原位检测装置具有弧形密封罩，使得X射线入射角度完全能够与弧形曲面呈垂直状态，从而X射线穿透窗口的有效距离减小，减少了对X射线衍射的吸收；待测电极片的集流极材料使用的是多孔金属材料，有利于电解液浸润和离子的传输；所述原位检测装置还包括定位片，将所述原位检测装置放置在粉末X射线衍射仪的样品台上，定位片插入样品架插口，结合粉末X射线衍射仪本身功能，可以方便地对原位检测装置进行校准操作，且在粉末X射线衍射仪的掠入射模式下，实时检测研究对象的表界面结构变化，显著降低了检测的难度。
主权项：1.一种X射线掠入射衍射的原位检测系统，其特征在于，所述原位检测系统包括：粉末X射线衍射仪、原位检测装置和电化学工作站；所述粉末X射线衍射仪包括X光源、平行光路、测角仪、衍射光路、探测器、样品台和样品架，所述平行光路用于提供发散度和光斑面积可调节的平行光；所述原位检测装置包括弧形密封罩、上盖、中体、下盖和定位片，所述定位片与所述样品架连接；所述弧形密封罩与所述上盖为一体式结构，所述上盖具有凹陷口，所述凹陷口开口处为测试窗口；所述中体的顶部为台阶型结构，具有镂空的中间区域和多个环形密封槽，以及位于所述环形密封槽内的密封圈；所述上盖与所述中体密封连接，所述中体与所述下盖密封连接；所述原位检测装置还具有空腔结构和位于所述空腔结构内的绝缘套筒，在第一方向上依次设置在所述绝缘套筒内的待测电极片、隔膜、相对电极片、导电顶针和导电弹簧，所述第一方向由所述上盖指向所述中体，所述待测电极片包括多孔金属材料的集流极和所述集流极上附着的待测电极材料；所述上盖还包括第一电极耳，所述下盖还包括第二电极耳，所述电化学工作站与所述第一电极耳和所述第二电极耳连接；所述平行光照射在所述待测电极材料的表面，并通过所述衍射光路被所述探测器接收用于对所述待测电极材料进行检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学技术大学 一种X射线掠入射衍射的原位检测系统及检测方法
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