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芯片堆叠封装结构及芯片堆叠封装方法 

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申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

摘要:本公开提供一种芯片堆叠封装结构及芯片堆叠封装方法,芯片堆叠封装结构包括封装体,封装体包括:芯片组,包括以阶梯形式逐层堆叠的多个芯片,芯片的键合面的暴露区域设有第一焊盘;键合线,各键合线通过第一焊盘与各芯片电连接;密封结构,包覆芯片组及键合线;沿芯片的堆叠方向,密封结构具有第一表面和远离第一表面的第二表面,芯片组的底部暴露于第一表面,键合线的顶端暴露于第二表面。本公开提供的芯片堆叠封装结构可减小封装结构的厚度、提升封装结构的散热性能和信号传输性能。

主权项:1.一种芯片堆叠封装结构,其特征在于,包括封装体,所述封装体包括:芯片组,包括以阶梯形式逐层堆叠的多个芯片,各所述芯片的键合面的暴露区域设有第一焊盘;键合线,各所述键合线通过所述第一焊盘与各所述芯片电连接;密封结构,包覆所述芯片组及所述键合线;沿所述芯片的堆叠方向,所述密封结构具有第一表面和远离所述第一表面的第二表面,所述芯片组的底部暴露于所述第一表面,各所述键合线的顶端暴露于所述第二表面。

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