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申请/专利权人：杭州长川科技股份有限公司
摘要：本申请提出一种半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法。其中，第一处理器接收上位机发送的第一控制指令后，查询得到开关编码；开关编码用于控制复用开关及业务功能模块的状态；上位机基于开关编码及第一控制指令，确定测试需求对应的待连通的业务功能模块与处于连通状态的业务功能模块，是否满足并行测试条件；若是，则生成第二控制指令并发送至第一处理器，第一处理器基于第二控制指令重新设置开关编码，以控制对应的复用开关及满足并行测试条件的业务功能模块的状态，以构成并行的测试环路；若否，则生成告警信号。本申请实现同时利用至少两个业务功能模块对被测器件进行测试，避免存在互斥关系的业务功能模块并行测试。
主权项：1.一种半导体测试板卡，与上位机、被测器件连接，其特征在于，包括主控板、以及与所述主控板连接的至少一个功能子板；所述主控板包括第一处理器及与所述第一处理器连接的逻辑复用开关模块，所述逻辑复用开关模块连接所述被测器件；所述功能子板包括至少一个业务功能模块；所述逻辑复用开关模块包括多个与各所述业务功能模块对应连接的复用开关；所述第一处理器接收所述上位机发送的第一控制指令后，查询得到开关编码并发送至所述上位机；所述第一控制指令基于至少一个测试需求所生成；所述开关编码用于控制所述复用开关及所述业务功能模块的状态；所述上位机基于所述开关编码及所述第一控制指令，确定所述测试需求对应的待连通的业务功能模块与处于连通状态的业务功能模块，是否满足并行测试条件；若是，则生成第二控制指令并发送至所述第一处理器，所述第一处理器基于所述第二控制指令重新设置开关编码，以控制对应的复用开关及满足并行测试条件的业务功能模块的状态，以构成并行的测试环路；若否，则生成告警信号。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州长川科技股份有限公司 半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法
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