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一种超平硅晶圆片的键合装置 

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申请/专利权人:苏州坤汇半导体有限公司

摘要:本实用新型提供一种键合装置,属于硅晶片键合技术领域,特别涉及一种超平硅晶圆片的键合装置,包括硅晶片,所述硅晶片的上方设有限位结构,限位结构包括置于硅晶片外部的滑轨,滑轨上设有和滑轨对应并置于硅晶片上方的连接板,连接板上连接有置于硅晶片一侧的限位柱,通过设置套设在硅晶片外部的滑轨,滑轨内部的设有和滑轨对应的连接板,连接板在滑轨上转动时,带动限位柱一同转动,限位柱紧贴硅晶片侧壁,从而完成对硅晶片侧壁上溢出的浆料的剐取,保持洁净,同时在转动时会对硅晶片进行限位,防止晶片位置发生偏移。

主权项:1.一种超平硅晶圆片的键合装置,包括硅晶片1,其特征在于:所述硅晶片1的上方设有限位结构2,限位结构2包括置于硅晶片1外部的滑轨21,滑轨21上设有和滑轨21对应并置于硅晶片1上方的连接板22,连接板22上连接有置于硅晶片1一侧的限位柱23。

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