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申请/专利权人:无锡尚积半导体科技有限公司
摘要:本申请公开了一种多功能晶圆处理装置,包括反应腔、收容腔、载台、线圈和靶材,靶材具有第一工作位置时和第二工作位置;使得靶材处于收容腔内,进行晶圆刻蚀时,靶材远离反应区域、不会被污染物附着;使得靶材处于反应腔内,进行晶圆镀膜时,靶材可实现反应气体的电离和金属原子的供给;本申请提供的多功能晶圆处理装置通过在反应腔内布置线圈和靶材,根据需要选择性地进行通电,即可实现晶圆的镀膜或者刻蚀,一腔两用,既有利于减小设备占地,又能够提高设备的实用性、以便于适应多种生产线的工艺需求,还能够降低使用成本;通过设置靶材具有两个不同的工作位置,刻蚀过程中转移靶材能够避免靶材沾附污染物,从而确保两种工艺的可靠进行。
主权项:1.一种多功能晶圆处理装置,其特征在于,包括:反应腔(1),用于为晶圆提供作业空间;收容腔(2),设于所述反应腔(1)一侧、并连通所述反应腔(1);载台(3),设于所述反应腔(1)内,用于承载晶圆;线圈(4),设于所述反应腔(1)内、并处于所述载台(3)上方;靶材(5)和位移驱动机构(10),所述位移驱动机构(10)用于驱使所述靶材(5)往返于第一工作位置和第二工作位置;所述靶材(5)处于所述第一工作位置时,所述靶材(5)处于所述收容腔(2)内;所述靶材(5)处于所述第二工作位置时,所述靶材(5)处于所述反应腔(1)内;进行晶圆刻蚀时,使得所述靶材(5)处于所述第一工作位置,所述线圈(4)通电、电离反应气体、形成等离子体,等离子体向下轰击、对所述载台(3)上的晶圆表面进行刻蚀;进行晶圆镀膜时,使得所述靶材(5)处于所述第二工作位置,所述靶材(5)通电、电离反应气体、形成等离子体,电子向上轰击所述靶材(5)、产生金属原子,金属原子向下沉积、对所述载台(3)上的晶圆表面进行镀膜。
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权利要求:
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