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申请/专利权人:合肥工业大学
摘要:本申请公开一种适用于压接型IGBT器件的热阻测试装置及方法,涉及功率半导体器件热参数测试技术领域,包括:多个水冷板、多个热电偶和上位机;第四水冷板、第二水冷板、待测器件、第一水冷板和第三水冷板自下而上堆叠设置;各水冷板中均设置一条U型水管;U型水管的进水口和出水口设置在对应水冷板的一个侧面上;各U型水管的进水口和出水口均设置一个热电偶;第一水冷板和第二水冷板上均开设有热电偶槽,一个热电偶槽中设置一个热电偶;热电偶槽中的热电偶均用于采集待测器件的壳温;热电偶槽中的热电偶分别与上位机连接;上位机用于基于水温或壳温计算待测器件的结壳热阻。本申请提高了压接式IGBT器件热阻测量的准确性。
主权项:1.一种适用于压接型IGBT器件的热阻测试装置,其特征在于,所述装置包括:多个水冷板、多个热电偶和上位机;多个水冷板分别为:第一水冷板、第二水冷板、第三水冷板和第四水冷板;所述第四水冷板、所述第二水冷板、待测器件、所述第一水冷板和所述第三水冷板自下而上堆叠设置;所述待测器件为压接型IGBT器件;各水冷板中均设置一条U型水管;所述U型水管的进水口和出水口设置在对应水冷板的一个侧面上;各所述U型水管的进水口和出水口均设置一个热电偶;所述U型水管中的热电偶均用于采集水温;所述U型水管中的热电偶分别与所述上位机连接;所述第一水冷板和所述第二水冷板上均开设有热电偶槽,一个所述热电偶槽中设置一个热电偶;所述热电偶槽中的热电偶均用于采集所述待测器件的壳温;所述热电偶槽中的热电偶分别与所述上位机连接;所述上位机用于基于水温或壳温计算所述待测器件的结壳热阻。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 合肥工业大学 一种适用于压接型IGBT器件的热阻测试装置及方法
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