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申请/专利权人：成都大汉微波集成技术有限公司
摘要：本申请实施例涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种应用于芯片版图的图像识别方法及系统，通过创新的空桥布设特征挖掘操作和精准的空间特征状态解析方法，本申请实施例成功地解决了传统芯片版图分析方法存在的诸多问题。不仅如此，本申请实施例还进一步提供了丰富的空桥布设特征标注数据，为设计人员提供了更为全面、深入的设计参考。通过一系列处理和分析步骤，提供了一种全新的、高效的芯片版图分析方法，不仅有助于提升芯片设计的整体质量和性能，还能在很大程度上缩短设计周期，降低设计成本，从而为整个芯片设计行业带来显著的效益提升。
主权项：1.一种应用于芯片版图的图像识别方法，其特征在于，应用于图像识别系统，所述方法包括：获取目标芯片版图，所述目标芯片版图包括第一区域版图图像和第二区域版图图像；对所述目标芯片版图进行空桥布设特征挖掘操作，得到挖掘结果，所述空桥布设特征挖掘操作用于在所述第一区域版图图像和所述第二区域版图图像构成的区域版图图像二元组中提炼空桥布设特征，所述空桥布设特征包括由所述第一区域版图图像的第一芯片骨架线图块和所述第二区域版图图像的第二芯片骨架线图块构成的芯片骨架线图块二元组，所述第一芯片骨架线图块和第二芯片骨架线图块的空间特征共性评分满足设定共性判别条件；在所述挖掘结果表征所述区域版图图像二元组中存在空桥布设特征的基础上，基于所述挖掘结果生成空桥布设特征标注数据；依据所述空桥布设特征标注数据对所述目标芯片版图进行空间特征状态解析，得到空间特征状态解析观点，所述空间特征状态解析观点表征所述第一区域版图图像和所述第二区域版图图像的状态冲突权重。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都大汉微波集成技术有限公司 应用于芯片版图的图像识别方法及系统
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