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申请/专利权人:南京行星级电子科技有限公司
摘要:本实用新型涉及测量装置领域,具体公开了一种用于芯片逆向版图提取的尺寸测量装置,包括:安装架,安装架的两侧相邻的内壁固定连接有放置板,安装架的一侧内壁开设有第一滑槽;实际使用时,将电路板的两端搭放在放置板上,后用手滑动第一调节杆和第二调节杆,同时调节块带动调节套在调节槽中进行滑动,限位块带动螺杆在限位槽中进行滑动,直至调节杆的两侧外壁和电路板的两侧抵住,后转动调节套使防滑垫和第二调节杆的上方抵接完成定位,此时便可进行读刻度对尺寸进行测量,测量精度更高的同时可以一次性直接对电路板的侧边进行测量。
主权项:1.一种用于芯片逆向版图提取的尺寸测量装置,其特征在于:所述用于芯片逆向版图提取的尺寸测量装置包括:安装架1,所述安装架1的两侧相邻的内壁固定连接有放置板2,所述安装架1的一侧内壁开设有第一滑槽3,所述第一滑槽3的内壁安装有第一螺纹杆4,所述第一螺纹杆4的穿出安装架1的一端固定连接有第一旋钮5,所述安装架1的另一侧内壁开设有第二滑槽6,所述第二滑槽6的内壁安装有第二螺纹杆7,所述第二螺纹杆7穿出安装架1的一端固定连接有第二旋钮8;第一调节杆9,所述第一调节杆9的一端固定连接有和第一滑槽3内壁滑动连接的第一滑块10,所述第一调节杆9的侧壁开设有通槽11,所述通槽11的内壁设有导向杆12,所述第一调节杆9的一侧外壁开设有紧固槽13,所述紧固槽13的一侧内壁开设有穿透的调节槽14,所述调节槽14的内壁安装有调节块15,所述调节块15的内壁安装有调节套16,所述调节块15的底端固定连接有防滑垫17;第二调节杆18,所述第二调节杆18的一端固定连接有和第二滑槽6内壁滑动连接的第二滑块19,所述第二调节杆18的一侧开设有和导向杆12外壁滑动连接的导向槽20,所述第二调节杆18的上侧外壁开设有限位槽21,所述限位槽21的内壁设有限位块22,所述限位块22的上端固定连接有和调节套16外壁螺纹连接的螺杆23。
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