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申请/专利权人：国网冀北电力有限公司电力科学研究院;国网冀北电力有限公司;国家电网有限公司

摘要：本发明提供了一种材料的纵波速度、横波速度、厚度的测量方法及装置，对应的方法包括：通过第一晶片发射第二无偏折纵波至未知材料，并通过第一晶片接收第二无偏折纵波，以计算第二无偏折纵波在未知材料的第二传播时间；通过第二晶片与第三晶片的任意一个晶片发射第一偏折纵波至未知材料，并通过另一个晶片接收第一偏折纵波，以计算第一偏折纵波在未知材料的第三传播时间；其中，第一偏折纵波对应的入射角小于第一临界角，第一临界角对应于标准均匀材料；第二晶片以及第三晶片分别位于第一晶片的两侧；本发明通过直接测量的方式即可获得材料的纵波声速、横波速度以及厚度信息，并可通过不同位置的声速信息评价材料的均匀性。

主权项：1.一种材料的纵波速度、横波速度、厚度的测量方法，其特征在于，包括：通过第一晶片发射第一无偏折纵波至已知材料，并通过所述第一晶片接收所述第一无偏折纵波，以计算所述第一无偏折纵波在所述已知材料中的第一传播时间；确定所述已知材料的纵波速度以及横波速度，并根据所述已知材料的纵波速度以及所述传播时间确定所述已知材料的厚度；通过所述第一晶片发射第二无偏折纵波至未知材料，并通过所述第一晶片接收所述第二无偏折纵波，以计算所述第二无偏折纵波在所述未知材料的第二传播时间；通过第二晶片与第三晶片的任意一个晶片发射第一偏折纵波至未知材料，并通过另一个晶片接收所述第一偏折纵波，以计算所述第一偏折纵波在所述未知材料的第三传播时间；其中，所述第一偏折纵波对应的入射角小于第一临界角，所述第一临界角对应于标准均匀材料；所述第二晶片以及所述第三晶片分别位于所述第一晶片的两侧；调整默认纵波速度值，使基于所述默认纵波速度值以及所述第二传播时间确定的未知材料第一厚度与基于所述默认纵波速度值、第三传播时间以及第一默认折射角确定的未知材料第二厚度相等时，以确定所述未知材料的纵波速度以及厚度；其中，所述默认折射角对应于所述标准均匀材料；调整所述第二晶片以及所述第三晶片的位置，以使所述第二晶片以及所述第三晶片互相接收对方所发送的第二偏折纵波；根据第二默认折射角、所述未知材料的厚度、所述第二偏折纵波在所述未知材料的第四传播时间确定所述未知材料的横波速度；其中，所述第二默认折射角对应的入射角大于所述第一临界角且小于第二临界角，所述第二临界角对应于所述标准均匀材料。

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