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申请/专利权人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
摘要：本发明涉及一种SARADC校准方法、模块及装置，包括以下步骤：S0对SARADC的输出码进行采样获得码值序列；S1对所述码值序列进行时频变换，并基于获得的频谱数据计算初始信噪失真比；S2基于理想电容权重和所述初始信噪失真比，利用模拟退火算法求解使所述SARADC获得最优信噪失真比的最优电容权重，且在每一个温度下的内循环完成后均对当前温度下获得的所述最优电容权重进行INL测试。本发明能够针对性解决电容误差引起的SARADC性能变差的问题。
主权项：1.一种SARADC校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S0对SARADC的输出码进行采样获得码值序列；S1对所述码值序列进行时频变换，并基于获得的频谱数据计算初始信噪失真比；S2基于理想电容权重和所述初始信噪失真比，利用模拟退火算法求解使所述SARADC获得最优信噪失真比的最优电容权重，且在每一个温度下的内循环完成后对当前温度下获得的所述最优电容权重进行INL测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种SAR ADC校准方法、模块及装置
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