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申请/专利权人：青岛悠进电装有限公司

摘要：本发明公开了一种生产线束质量检测方法，属于图像处理技术领域，包括以下步骤：S1、采集线束生产完成时的目标图像，并为目标图像生成形态矩阵；S2、基于形态矩阵，生成第一像素关联矩阵和第二像素关联矩阵，确定目标图像对应的质量检测阈值；S3、基于质量检测阈值，确定目标图像是否存在质量瑕疵。本发明通过检查线束的外观，及时发现其表面缺陷，确保线束的质量符合标准要求，不仅提高了线束产品的质量和可靠性，还降低了生产过程中的故障率和安全隐患，提高了生产效率。

主权项：1.一种生产线束质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采集线束生产完成时的目标图像，并为目标图像生成形态矩阵；S2、基于形态矩阵，生成第一像素关联矩阵和第二像素关联矩阵，确定目标图像对应的质量检测阈值；S3、基于质量检测阈值，确定目标图像是否存在质量瑕疵；所述S1包括以下子步骤：S11、采集线束生产完成时的目标图像；S12、提取目标图像的两条对角线所在像素点，作为对角形态像素点集；S13、将目标图像中第行第列像素点、第行第列像素点、第行第列像素点和第行第列像素点依次连接，形成闭合线段，将闭合线段所在像素点作为闭合形态像素点集，其中，M表示目标图像的行数，N表示目标图像的列数，表示向上取整；S14、根据对角形态像素点集和闭合形态像素点集，生成形态像素约束值；S15、根据形态像素约束值，为目标图像生成形态矩阵；所述S14中，形态像素约束值B的计算公式为：；式中，a1表示对角形态像素点集中第1个像素点的像素值，aI表示对角形态像素点集中第I个像素点的像素值，max·表示最大值运算，b1表示闭合形态像素点集中第1个像素点的像素值，bJ表示闭合形态像素点集中第J个像素点的像素值，M表示目标图像的行数，N表示目标图像的列数；所述S15中，形态矩阵Xform的表达式为：；式中，c1,1表示目标图像中第1行第1列像素点的像素值，c1,N表示目标图像中第1行第N列像素点的像素值，cM,1表示目标图像中第M行第1列像素点的像素值，cM,N表示目标图像中第M行第N列像素点的像素值，B表示形态像素约束值；所述S2包括以下子步骤：S21、为目标图像生成第一像素关联矩阵；S22、将第一像素关联矩阵与形态矩阵进行哈达玛乘积运算，得到第二像素关联矩阵；S24、根据第一像素关联矩阵和第二像素关联矩阵，确定目标图像对应的质量检测阈值；所述S21包括以下子步骤：S211、提取形态矩阵的谱半径；S212、根据形态矩阵的谱半径和目标图像中像素点的像素值，确定各个像素点在第一像素关联矩阵的元素值，生成第一像素关联矩阵；所述S212中，第m行第n列像素点在第一像素关联矩阵的元素值ymn的计算公式为：；式中，cm,n表示目标图像中第m行第n列像素点的像素值，R表示形态矩阵的谱半径，Cmax表示目标图像的最大像素值，Cmin表示目标图像的最小像素值，所述S24中，目标图像对应的质量检测阈值β的计算公式为：；式中，Y表示第一像素关联矩阵，Z表示第二像素关联矩阵，T表示矩阵转置，η表示形态矩阵的最大奇异值。

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