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申请/专利权人：苏州知码芯信息科技有限公司

摘要：本发明涉及芯片生产管理技术领域，具体为一种基于数据分析的芯片生产数据管理系统及方法，包括：芯片生产数据管理模块、模型搭建分析模块、预留数量规划模块和生产数量分配模块，芯片生产数据管理模块用于对芯片生产数据进行采集处理和存储管理，模型搭建分析模块用于分析芯片生产数据，搭建对当前是否需要进行芯片生产预留进行判断的预留判断模型，预留数量规划模块用于在判断出需要在当前芯片生产过程中进行芯片生产预留时，规划芯片预留生产数量，生产数量分配模块用于对每个生产线上预留生产的芯片数量做分配管理，额外分配芯片进行预留生产，减少了在检测出不合格芯片之后再重新生产芯片的现象，降低了芯片产品的交付流程出现迟滞的概率。

主权项：1.一种基于数据分析的芯片生产数据管理方法，其特征在于：包括以下步骤：Z10：对芯片生产数据进行采集处理和存储管理；Z20：分析芯片生产数据，搭建对当前是否需要进行芯片生产预留进行判断的预留判断模型；Z30：在判断出需要在当前芯片生产过程中进行芯片生产预留时，规划芯片预留生产数量；Z40：对每个生产线上预留生产的芯片数量做分配管理；在Z10中：采集到在以往k次芯片生产过程中，随机一种芯片每次检测后的合格数量集合为B＝{B1，B2，…，Bk}，每次检测后的不合格数量集合为V＝{V1，V2，…，Vk}，采集到随机一种芯片以往在生产完成之后的交付延迟时长集合为t＝{t1，t2，…，tk}，采集以往k次芯片生产过程中初始设定的不同生产线需要生产的对应种类芯片数量以及当前设定的不同生产线需要生产的对应种类芯片数量，采集以往芯片生产过程中不同生产线生产的合格以及不合格的芯片数量；在Z20中：得到以往随机一次芯片生产过程中生产的芯片合格比例Li，其中，Bi表示在第i次芯片生产过程中对应种类芯片检测后的合格数量，Vi表示在第i次芯片生产过程中对应种类芯片检测后的不合格数量，得到以往k次芯片生产过程中生产的芯片合格比例集合为L＝{L1，L2，…，Li，…，Lk}，根据公式计算以往随机一次芯片生产过程中进行芯片生产预留的必要价值Gi，其中，ti表示对应种类芯片在第i次生产完成之后的交付延迟时长，得到k次芯片生产过程中进行芯片生产预留的必要价值集合为G＝{G1，G2，…，Gi，…，Gk}，组成模型训练数据{L1，G1，L2，G2，…，Li，Gi，…，Lk，Gk}，对模型训练数据进行拟合后建立预留判断模型：y＝β1*x+β2；其中，β1和β2表示拟合系数，x表示预留判断模型中指代芯片合格比例的变量，y表示预留判断模型中指代必要价值的变量。

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