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申请/专利权人：思敏光子控股有限责任公司
摘要：本发明揭示一种用于一光子集成电路之干涉仪100，该干涉仪包括一第一波导104、一第二波导108及该第一波导104或该第二波导108之至少一者上之一层106。该第一波导104具有一第一有效折射率及沿该第一波导104之一光学传播轴之一第一路径长度。该第二波导108具有一第二有效折射率及沿该第二波导108之一光学传播轴之一第二路径长度。该干涉仪100被配置为减小以下之间的一差变化：该第一路径长度乘以该第一有效折射率；以及该第二路径长度乘以该第二有效折射率。该差变化由来自该层106之一膨胀力或一收缩力之至少一者引起。
主权项：1.一种用于一光子集成电路之干涉仪，该干涉仪包括：一第一波导，其具有一第一有效折射率及沿该第一波导之一光学传播轴之一第一路径长度；一第二波导，其具有一第二有效折射率及沿该第二波导之一光学传播轴之第二路径长度；及一层，其位于该第一波导或该第二波导之至少一者上，其中该干涉仪被配置为减小以下之间的一差变化：该第一路径长度乘以该第一有效折射率，与该第二路径长度乘以该第二有效折射率，该差变化由来自该层之一膨胀力或一收缩力之至少一者引起。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 思敏光子控股有限责任公司 用于光子集成电路的干涉仪
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