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申请/专利权人：紫光同芯微电子有限公司
摘要：本申请涉及芯片验证技术领域，公开了一种用于芯片设计方案的验证方法、电子设备。电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片为基于芯片设计方案仿真出的代码文件，验证方法包括：接收第一配置信息，在模拟芯片的存储区域内划分出同步区域；接收第二配置信息，并根据第二配置信息生成待验证部分所对应的验证数据；通过后门操作向同步区域写入验证数据，以使模拟芯片的C程序在同步区域内识别到开始数字标志后从同步区域读取并执行验证数据，确定目标状态标志，并将目标状态标志写入至同步区域；从同步区域读取目标状态标志，确定对芯片设计方案的待验证部分的验证结果。本申请能够减少芯片设计方案仿真验证时长，提高验证效率。
主权项：1.一种用于芯片设计方案的验证方法，应用于电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片为基于芯片设计方案仿真出的内部部署有C程序的代码文件，其特征在于，验证方法通过运行验证平台实现，验证方法包括：接收第一配置信息，在模拟芯片的存储区域内划分出同步区域；接收第二配置信息，并根据第二配置信息生成待验证部分所对应的验证数据；通过后门操作向同步区域写入验证数据，以使模拟芯片的C程序在同步区域内识别到开始数字标志后从同步区域读取并执行验证数据，确定目标状态标志，并将目标状态标志写入至同步区域；从同步区域读取目标状态标志，确定对芯片设计方案的待验证部分的验证结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 紫光同芯微电子有限公司 用于芯片设计方案的验证方法、电子设备
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