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申请/专利权人：成都高投芯未半导体有限公司

摘要：本发明提出一种IGBT的极限电压测试系统及方法，包括管理设备、电压源设备以及电流采集设备，管理设备用于控制电压源设备在IGBT管的集电极和发射极之间施加脉冲电压；电流采集设备用于采集IGBT管的集电极和发射极之间的漏电流值，并将漏电流值传输给管理设备；管理设备用于根据漏电流值确定IGBT管的极限电压。通过脉冲电压源在IGBT管的集电极和发射极之间施加脉冲电压，快速测量IGBT管的集电极和发射极之间的漏电流值，可以在准确地确定IGBT管的极限电压的前提条件下，尽可能缩短测试的时长，避免长时间连续的电流测试导致IGBT管出现发热的情况，减少对器件的损害。

主权项：1.一种IGBT的极限电压测试系统，其特征在于，所述IGBT的极限电压测试系统包括管理设备、电压源设备以及电流采集设备，所述电压源设备的第一端用于连接IGBT管的集电极的信号施加端，所述电压源设备的第二端用于连接IGBT管的发射极的信号施加端，所述电流采集设备的第一端用于连接IGBT管的集电极的量测端，所述电流采集设备的第二端用于连接IGBT管的发射极的量测端，所述管理设备分别与所述电压源设备和所述电流采集设备连接；所述管理设备用于控制所述电压源设备在所述IGBT管的集电极和发射极之间施加脉冲电压，包括：控制所述电压源设备按照目标电压在所述IGBT管的集电极和发射极之间施加脉冲电压；所述电流采集设备用于采集所述IGBT管的集电极和发射极之间的漏电流值，并将所述漏电流值传输给所述管理设备；所述管理设备用于根据所述漏电流值确定所述IGBT管的极限电压，包括：确定在所述目标电压下所述漏电流值是否超过电流阈值，若在所述目标电压下所述漏电流值超过所述电流阈值，所述管理设备用于控制所述电压源设备停止施加脉冲电压，并将当前的目标电压确定为所述IGBT管的极限电压；若在所述目标电压下预设时间长度内所述漏电流值未超过所述电流阈值，所述管理设备用于控制所述电压源设备停止施加脉冲电压，并将当前的目标电压增加第一预设幅度，以得到新的目标电压；所述管理设备用于确定新的目标电压是否超过电压阈值；若新的目标电压未超过所述电压阈值，所述管理设备用于控制所述电压源设备按照新的目标电压在所述IGBT管的集电极和发射极之间施加脉冲电压，直至新的目标电压超过所述电压阈值或所述漏电流值超过所述电流阈值。

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