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测定装置、测定方法以及存储介质 

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申请/专利权人:本田技研工业株式会社

摘要:本发明提供能够在二次电池的交流阻抗测定中更精确地计数等效电路中的RC并联电路数的测定装置、测定方法以及存储介质。测定装置具备执行如下S1~S5的处理的阻抗运算器。S1:制作伯德图。S2:在伯德图上提取顶点,作为RC并联电路数而计数+1,以所述顶点为中心对能够由RC并联电路表示的峰的形状进行拟合。S3:将拟合出的能够由RC并联电路表现的伯德图分量从测定结果的伯德图中减去。S4:若无法在伯德图上提取顶点则结束RC并联电路数的鉴定,若提取顶点则重复S2以及S3。S5:报告RC并联电路数的总计数数量。

主权项:1.一种测定装置,其是二次电池的交流阻抗的测定装置,其中,所述测定装置具备阻抗运算器以及用于所述阻抗运算器与连接于所述阻抗运算器的设备输入输出信号的信号输入输出接口,所述阻抗运算器执行如下S1~S5的处理,S1所述阻抗运算器在作为对数轴的横轴标绘频率fHz、并在纵轴标绘相位θ度而制作伯德图,在伯德图的制作时,所述阻抗运算器进行电感分量与扩散分量的拟合,并将该电感分量与该扩散分量从测定结果的伯德图中除去;S2所述阻抗运算器在制作出的伯德图上提取顶点,作为RC并联电路数而计数+1,以所述顶点为中心对能够由RC并联电路表示的峰的形状进行拟合,其中,为了辨别测定噪声与顶点,而设定有舍弃的θ值,所述阻抗运算器从相位θ的值为预先设定的θ0以上的点中提取顶点;S3所述阻抗运算器将拟合出的能够由RC并联电路表现的伯德图分量从测定结果的伯德图中减去;S4所述阻抗运算器若无法在伯德图上提取顶点则结束RC并联电路数的鉴定,但若提取顶点则重复所述S2以及所述S3,其中,顶点的相位0的大小是预先设定的θ1以上;S5所述阻抗运算器报告RC并联电路数的总计数数量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 本田技研工业株式会社 测定装置、测定方法以及存储介质

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