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芯片与基板连接结构中UBM的确定方法、介质及设备 

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申请/专利权人:沐曦集成电路(上海)有限公司

摘要:本发明涉及数据处理领域,特别是涉及芯片与基板连接结构中UBM的确定方法、介质及设备。包括根据每一初始直径值及对应的布置间隔值,确定由每一初始直径值形成的第二UBM垫层在预设区域中的设置数量。若,则确定为目标直径,以生成多个目标直径。从多个目标直径中,获取第二UBM垫层的直径。经过本发明中的处理之后,可以更加准确的确定出能够满足某一区域最低凸点密度要求的第二UBM垫层的可用直径,以满足不同区域不同凸点密度的使用要求,进一步保证芯片的运行稳定性。

主权项:1.一种芯片与基板连接结构中UBM的确定方法,其特征在于,所述芯片与基板连接结构中包括圆柱状的第一UBM垫层及第二UBM垫层,所述第一UBM垫层为连接结构中面积最小的UBM垫层,所述第二UBM垫层为连接结构中面积最大的UBM垫层;所述第二UBM垫层设置于芯片的边缘和或顶角区域;所述第二UBM垫层的直径按照如下步骤确定:根据第一UBM垫层的直径与第一预设阈值,生成初始直径取值区间;从所述初始直径取值区间获取多个初始直径值;根据第一映射表,获取每一初始直径值对应的布置间隔值;根据每一初始直径值及对应的布置间隔值,确定由每一初始直径值形成的第二UBM垫层在预设区域中的设置数量A1、A2、…、Ai、…、Az;其中,Ai为由第i个初始直径值形成的第二UBM垫层在预设区域中的设置数量;z为初始直径值的总数量,i=1、2、…、z;若,则确定为目标直径,以生成多个目标直径;其中,为所述预设区域的凸点密度下限值;为所述预设区域的总面积;为第i个初始直径值;从多个所述目标直径中,获取所述第二UBM垫层的直径。

全文数据:

权利要求:

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