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申请/专利权人:柯尔微电子装备(厦门)有限公司
摘要:本申请涉及晶圆外观检查技术领域,具体公开一种全自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法。该全自动晶圆表面检查机包括机架,以及安装在机架上的料盒、载盘、机械手、翻面模组、宏观检模组和微观检模组。载盘用于承载晶圆。翻面模组具有夹持机构和翻转器。翻转器安装在机架上。翻转器的输出端连接于夹持机构。夹持机构配置为能夹持载盘。宏观检模组配置有用于承接载盘的宏观工位。微观检模组配置有用于承接载盘的微观工位。机械手配置为能托运载盘,并将载盘在收储工位、夹持机构、宏观工位和微观工位之间进行转移。本检查机能对晶圆正面进行宏观检查定位瑕疵后,再针对宏观检出的瑕疵进行微观检查复判,提升检出瑕疵的效率和准确度。
主权项:1.一种全自动晶圆表面检查机,其特征在于,包括机架(1),以及安装在所述机架(1)上的料盒(2)、载盘(3)、机械手(4)、翻面模组(5)、宏观检模组(6)和微观检模组(7);所述载盘(3)配置为用于承载晶圆(8);所述料盒(2)配置有用于装载所述载盘(3)的收储工位(201);所述翻面模组(5)具有夹持机构(51)和翻转器(52);所述翻转器(52)安装在所述机架(1)上;所述翻转器(52)的输出端连接于所述夹持机构(51);所述夹持机构(51)配置为能夹持所述载盘(3);所述宏观检模组(6)配置有用于承接所述载盘(3)的宏观工位(6051);所述微观检模组(7)配置有用于承接所述载盘(3)的微观工位(7051);所述机械手(4)配置为能托运所述载盘(3),并将所述载盘(3)在所述收储工位(201)、所述夹持机构(51)、所述宏观工位(6051)和所述微观工位(7051)之间进行转移。
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