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申请/专利权人：道格特半导体科技(江苏)有限公司
摘要：本发明公开了一种测试电路管芯的探针卡划分布局方法及系统，用于电路测试领域，该方法包括以下步骤：利用仿真技术对预设的覆盖所有测试点的探针卡布局模拟探针与测试电路管芯接触点的对应关系；构建针对不同测试需求的测试层次，根据测试层次划分探针卡布局；利用所述测试层次对测试电路管芯进行测试，识别不良品的分布位置和故障类型；基于调整后的探针卡布局，设计密集型探针测试点；利用路径优化算法，基于密集型探针测试点计算最优测试路径；得到最终的探针卡布局。本发明通过利用卷积神经网络模型从测试数据中提取空间特征，结合递归神经网络模型捕获的时间变化特征，能够从多个维度深入理解电路管芯的行为和潜在问题。
主权项：1.一种测试电路管芯的探针卡划分布局方法，其特征在于，该探针卡划分布局方法包括以下步骤：S1、利用仿真技术对预设的覆盖所有测试点的探针卡布局模拟探针与测试电路管芯接触点的对应关系；S2、构建针对不同测试需求的测试层次，并根据测试层次划分探针卡布局；S3、利用所述测试层次对测试电路管芯进行测试，标记不良品，分析测试结果，识别不良品的分布位置和故障类型，并根据识别结果调整探针卡布局；S4、基于调整后的探针卡布局，标注功能区域或故障高发区域，并设计密集型探针测试点；S5、利用路径优化算法，基于密集型探针测试点计算最优测试路径；S6、分析密集型探针测试点的布局效果和最优测试路径的路径优化结果，识别测试规律和特征变化趋势，并根据识别结果调整密集型探针测试点，得到最终的探针卡布局。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 道格特半导体科技(江苏)有限公司 一种测试电路管芯的探针卡划分布局方法及系统
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