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低EMI噪声的绝缘栅双极型晶体管器件结构及其制造方法 

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申请/专利权人:无锡新洁能股份有限公司

摘要:本发明涉及功率半导体器件领域,具体涉及一种低EMI噪声的绝缘栅双极型晶体管器件结构及其制造方法。包括依次层叠设置的P型集电极、N型缓冲层和N型外延层;从N型外延层上表面向下形成第一P型体区,在第一P型体区上设有重掺杂的N型发射区;在位于第一P型体区内侧的N型外延层中设有栅极沟槽;位于相邻两个栅极沟槽之间的N型外延层中设有发射极沟槽;在栅极沟槽和发射极沟槽中设置第一氧化层并填充多晶硅,分别形成栅极结构和发射极结构;在发射极结构周围设置第二P型体区,第二P型体区与发射极结构耦合;栅极结构和N型外延层的上表面设有第二氧化层,第二氧化层上设有发射极金属。本发明能避免IGBT器件开启过程中给系统带来的EMI问题。

主权项:1.一种低EMI噪声的绝缘栅双极型晶体管器件结构,包括从下至上依次层叠设置的P型集电极、N型缓冲层和N型外延层;从所述N型外延层上表面向下形成第一P型体区,每个所述第一P型体区沿三维空间的y方向延伸,相邻两个所述第一P型体区在沿三维空间的x方向上间隔排布;在所述第一P型体区上设有重掺杂的N型发射区,所述重掺杂的N型发射区沿所述第一P型体区的延伸方向间隔分布;在位于所述第一P型体区内侧的N型外延层中设有栅极沟槽;其特征在于,位于相邻两个所述栅极沟槽之间的N型外延层中设有发射极沟槽,所述发射极沟槽沿三维空间的y方向延伸;在所述栅极沟槽和发射极沟槽中设置第一氧化层并填充多晶硅,分别形成栅极结构和发射极结构;在所述发射极结构周围设置第二P型体区,所述第二P型体区与所述发射极结构耦合;所述栅极结构和所述N型外延层的上表面设有第二氧化层,所述第二氧化层上设有发射极金属,所述发射极金属与所述重掺杂的N型发射区、发射极沟槽、第一P型体区和第二P型体区相接触。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 无锡新洁能股份有限公司 低EMI噪声的绝缘栅双极型晶体管器件结构及其制造方法

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