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申请/专利权人：成都电科蓉芯科技有限公司
摘要：本发明公开了基于FPGA的以太网PHY芯片功能测试系统，涉及芯片功能检测技术领域，有效的提高了功能测试的准确性。本发明通过设置信号环回路径，令差分测试数字信号在各个以太网PHY芯片以及路由器沿着信号环回路径进行多次环回检测，根据环回检测结果生成干扰信号频谱，进而根据干扰信号频谱对差分测试数字信号进行修正，获取标准以太网PHY芯片与测试以太网PHY芯片在各次环回检测后的允许误差范围区间，通过判断测试以太网PHY芯片对应的转化误差值是否在允许误差范围区间内，判断测试以太网PHY芯片是否存在功能异常。
主权项：1.基于FPGA的以太网PHY芯片功能测试系统，包括云计算平台，其特征在于，所述云计算平台通信连接有测试信号发送模块、信号环回检测模块以及芯片异常检测模块；所述测试信号发送模块用于设置电路开发板，并在电路开发板上设置FPGA电路、路由器以及多个相同型号的标准以太网PHY芯片和测试以太网PHY芯片，进而FPGA电路通过路由器向各个以太网PHY芯片同时发送差分测试数字信号；所述信号环回检测模块用于在路由器以及各个以太网PHY芯片内设置信号环回路径，在路由器将差分测试数字信号发送至各个以太网PHY芯片之前，以及各个以太网PHY芯片对差分测试数字信号进行转化的过程中，令差分测试数字信号在各个以太网PHY芯片以及路由器沿着信号环回路径进行多次环回检测，并生成相应的干扰信号频谱；所述芯片异常检测模块用于根据干扰信号频谱对差分测试数字信号进行修正，进而获取标准以太网PHY芯片与测试以太网PHY芯片，在各次环回检测后将差分测试数字信号转化为差分测试模拟信号时的转化误差值，并根据各个标准以太网PHY芯片在各次环回检测的转化误差值建立允许误差范围区间，进而通过判断测试以太网PHY芯片对应的转化误差值是否在允许误差范围区间内，判断测试以太网PHY芯片是否存在功能异常。
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权利要求：
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