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申请/专利权人：深圳市速腾聚创科技有限公司

摘要：本申请公开了一种激光雷达芯片及其控制方法、激光雷达，激光雷达芯片包括主控电路、存储器控制电路、存储器和存储器修复电路。主控电路用于在激光雷达芯片上电后输出测试指令。存储器控制电路用于基于测试指令控制存储器运行以测试存储器是否异常，并在存储器异常时输出异常反馈信号至主控电路。主控电路还用于响应于异常反馈信号，输出修复指令。存储器修复电路用于基于修复指令修复存储器的异常地址。通过上述方式，能够在激光雷达芯片上电后实现存储器的检测及修复过程，以确保激光雷达芯片后续的可靠运行，有利于降低安全隐患，从而能够有效保障人身安全。

主权项：1.一种激光雷达芯片，其特征在于，包括：主控电路，用于在所述激光雷达芯片上电后输出测试指令；存储器控制电路和存储器，所述存储器控制电路用于基于所述测试指令控制所述存储器运行以测试所述存储器是否异常，并在所述存储器异常时输出异常反馈信号至所述主控电路；所述主控电路还用于响应于所述异常反馈信号，输出修复指令；存储器修复电路，用于基于所述修复指令修复所述存储器的异常地址；所述存储器控制电路包括存储器指令解析模块与存储器控制模块，所述激光雷达芯片还包括第一选择器与第一解析模块；所述存储器指令解析模块用于当所述激光雷达芯片对所述存储器进行自检时输出第一选择信号，且当需要对所述激光雷达芯片批量进行生产过程中的测试时停止输出第一选择信号，并基于预设协议将所述测试指令解析为第一控制指令；所述第一选择器用于输入所述第一控制指令和所述激光雷达芯片外部的第二控制指令，并且，在所述第一选择器接收到所述第一选择信号时输出所述第一控制指令，在所述第一选择器未接收到所述第一选择信号时输出所述第二控制指令，其中，在所述第一选择器输出所述第一控制指令时从所述存储器指令解析模块接收的测试内容对应的覆盖率低于在所述第一选择器输出所述第二控制指令时从外部的测试机接收的测试内容对应的覆盖率；所述第一解析模块用于将所述第一控制指令或所述第二控制指令解析为存储器控制指令，并输出所述存储器控制指令；所述存储器控制模块用于基于所述存储器控制指令控制所述存储器运行以测试所述存储器是否异常，并在所述存储器异常时输出所述异常反馈信号至所述主控电路。

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