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多工位差分晶振测试系统及方法 

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申请/专利权人:航天科工防御技术研究试验中心

摘要:本申请提供一种多工位差分晶振测试系统及方法,所述测试系统,包括温箱,测试板,设置在温箱内,可以实现设置在测试板上的晶振在不同温度环境下的测试。测试板包括母板和多个子板,母板上设有与子板配合的测试工位,每个测试工位包括相连接的插座和输出插头,子板插接在插座上,子板上安装有差分晶振;测试器通过矩阵开关与输出插头连接。测试板上设有多个测试工位,可以实现对多个差分晶振进行测试,每个测试工位设有输出插头,测试器通过矩阵开关与输出插头连接,可以实现测试器通过矩阵开关获取想要测试的工位的数据,实现对各测试工位实现独立测试,也即实现了多个差分晶振独立测试,防止各测试工位串扰。

主权项:1.一种多工位差分晶振测试系统,其特征在于,包括:温箱,测试板,设置在所述温箱内,包括母板1和多个子板2,所述母板1上设有与所述子板2配合的测试工位10,每个所述测试工位10包括相连接的插座11和输出插头12,所述子板2插接在所述插座11上,所述子板2上安装有差分晶振;测试器,通过矩阵开关与所有输出插头12连接。

全文数据:

权利要求:

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