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申请/专利权人:天津大学合肥创新发展研究院;安徽卓湛电子科技有限公司
摘要:本发明公开了一种用于两步单斜ADC的数字校正电路处理方法,涉及集成电路设计领域,包括步骤一:粗码值产生电路与单斜坡ADC的斜坡发生器的计数器同步计数,当多输入与门被阻塞,CK信号停止对后续的反向计数器产生影响,并将信号传至步骤二:当比较器的细量化比较结果comp_f由高电平向低电平翻转时,comp_f阻塞多输入与门,使得CK信号不再影响细量化计数器码值,并将信号传至步骤三;步骤三:粗量化码值与RSD送入加法器,并将RSD和粗量化最低位对其相加,得到最终量化结果后再被寄存器存储,因此此电路可以应对不同工况的数字校正需求,尤其在以细量化位数大时,节约的减法器面积更为显著。
主权项:1.一种用于两步单斜ADC的数字校正电路处理方法,其特征在于,包括:步骤一:粗码值产生电路与单斜坡ADC的斜坡发生器的计数器同步计数,当多输入与门被阻塞,CK信号停止对后续的反向计数器产生影响,并将信号传至步骤二;步骤二:当比较器的细量化比较结果comp_f由高电平向低电平翻转时,comp_f阻塞多输入与门,使得CK信号不再影响细量化计数器码值,并将信号传至步骤三;步骤三:粗量化码值与RSD送入加法器,并将RSD和粗量化最低位对其相加,得到最终量化结果后再被寄存器存储。
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