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申请/专利权人:南京星问科技有限公司
摘要:本发明公开了一种基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法,包括步骤:S1、进行硬件配置:设置主从系统,集成时钟源并模拟网络条件;S2、设置软件驱动程序;S3、获得多个测试用例的测试结果;S4、进行多角度性能分析。本发明用主从系统的PHY芯片和ZYNQ芯片进行同步测试,可在示波器显示精准的测试结果,有效提升测试准确性;还优化ZYNQ芯片的处理系统和可编程逻辑的结构,以多种专用的高效接口进行传输,并在软件驱动程序的控制下以MAC控制器控制多个测试用例,有效做到精准的时钟对准和时间同步;此外,还对最终测试结果进行多角度性能分析,进一步提升测试的可靠性。
主权项:1.一种基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:S1、进行硬件配置:设置主系统和从系统,主系统包括互连的主ZYNQ芯片和主PHY芯片,从系统包括互连的从ZYNQ芯片和从PHY芯片,主PHY芯片分别通过电缆和示波器连接从PHY芯片;分别在主ZYNQ芯片内部和从ZYNQ芯片内部构建相同的测试环境,用于集成相同的时钟源并模拟相同的网络条件;S2、设置软件驱动:分别对步骤S1中的主ZYNQ芯片设置第一软件驱动程序和对步骤S1中的从ZYNQ芯片设置第二软件驱动程序,利用第一软件驱动程序控制主PHY芯片的第一PTP,同时将主PHY芯片与主ZYNQ芯片进行时间同步;利用第二软件驱动程序控制从PHY芯片的第二PTP,同时将从PHY芯片与从ZYNQ芯片进行时间同步;S3、进行测试:完成步骤S2后,设置多个测试用例并将多个测试用例同时存储在第一软件驱动程序中和第二软件驱动程序中;依次对每个测试用例进行测试,利用示波器获取主ZYNQ芯片在每个测试用例下对应的每个第一秒脉冲信号和每个第一PTP同步输出时钟,利用示波器获取每个从ZYNQ芯片在每个测试用例下对应的每个第二秒脉冲信号和每个第二PTP同步输出时钟;将每个第一秒脉冲信号、每个第一PTP同步输出时钟、每个第二秒脉冲信号和每个第二PTP同步输出时钟作为最终测试结果;S4、监测与分析:对步骤S3中最终测试结果进行延迟、抖动和同步精度的多角度性能分析,判断是否满足测试的性能要求,若满足,则结束测试;若不满足,则重新返回步骤S1中分别在主ZYNQ芯片内部和从ZYNQ芯片内部构建相同的测试环境的步骤进行循环,直至满足测试的性能要求时,结束测试。
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