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摘要:本实用新型属于光电子器件测试技术领域,具体公开了一种光电子器件测试装置,包括装置架,所述装置架的顶部焊接有侧架,所述侧架的前端面通过驱动机构滑动安装有光学显微镜,所述装置架的顶部通过振动机构活动安装有基座,所述基座的顶部设置有测试台,所述测试台的内侧设置有拦阻机构。该光电子器件测试装置,在测试槽内对光纤组件进行振动测试的过程中,需开启振动电机带动基座及其顶部的测试台振动,配合弹簧在受压后产生形变的同时形成反向的弹力,从而提升基座的振动频率,使得基座进一步振动,进而测试槽内的光纤组件能够受到足够的振动,完成振动测试,整个振动测试过程简单快捷,易于推广。
主权项:1.一种光电子器件测试装置,包括装置架1,其特征在于:所述装置架1的顶部焊接有侧架2,所述侧架2的前端面通过驱动机构滑动安装有光学显微镜6,所述装置架1的顶部通过振动机构活动安装有基座10,所述基座10的顶部设置有测试台12,所述测试台12的内侧设置有拦阻机构。
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