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摘要:本发明提供一种快接式探针座,用于测试电路基板,快接式探针座包括基座、同轴接头、机械固定接头以及探针夹持部。其中,基座具有第一表面以及对应的第二表面,同轴接头设置于基座,且其一端位于第一表面侧,同轴接头与测试机台耦接用以传输高频信号。机械固定接头设置于第一表面,用以与测试机台连接,其中机械固定接头相较于同轴接头更靠近基座的中心,探针夹持部与第二表面连接,探针夹持部的一端用于连接有对应其中一种间距的电性接点的高频探针,其与同轴接头电性连接。
主权项:1.一种快接式探针座,用于测试一电路基板,其特征在于,包括:一基座,具有一第一表面以及与所述第一表面对应的第二表面;一同轴接头,与所述基座相耦接,所述同轴接头的一端高于所述第一表面,所述同轴接头用于耦接一测试机台的一探针座连接部以传输高频信号;一机械固定接头,设置于所述第一表面,用以与所述测试机台的所述探针座连接部连接,其中所述机械固定接头相较于所述同轴接头更靠近所述基座的中心;以及一探针夹持部,与所述第二表面连接,所述探针夹持部的一端用于连接一高频探针,所述高频探针与所述同轴接头电性连接。
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