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一种软快恢复FRD二极管芯片制备方法 

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申请/专利权人:常州星海电子股份有限公司

摘要:本发明涉及软快恢复二极管芯片技术领域,尤其涉及一种软快恢复FRD二极管芯片制备方法,包括扩散制程和GPP制程,其特征在于,所述扩散制程包括以下步骤:步骤一、扩散前处理;步骤二、磷扩处理:对步骤一处理后硅片的N面进行扩散处理,先采用低浓度磷纸进行一次扩散,然后采用正常浓度磷纸进行二次扩散;步骤三、一次吹砂;步骤四、硼扩处理;步骤五、二次吹砂:完成扩散制程,该硅片制成的芯片在正向电压不显著增加的情况下,可获得更高的反向击穿电压,通过采用双基区扩散工艺,新增的基区N比原基区N‑的杂质浓度高,在施加反向偏压时,将载流子抽走的时间加长,即tb值变大,将软度因子S值提高到0.65左右,有效改善二极管的软度。

主权项:1.一种软快恢复FRD二极管芯片制备方法,包括扩散制程和GPP制程,其特征在于,所述扩散制程包括以下步骤:步骤一、扩散前处理:对硅片原料先进行机械抛光处理,得到抛光基片,然后通过硅片清洗液对抛光基片表面进行清洗处理;步骤二、磷扩处理:对步骤一处理后硅片的N面进行扩散处理,先采用低浓度磷纸进行一次扩散,然后采用正常浓度磷纸进行二次扩散;步骤三、一次吹砂:将磷扩处理过的硅片以40-50cmmin的传动速度速进入真空吹砂室中,将P面朝上,以0.9-1.0Kgcm2的压力进行喷砂;步骤四、硼扩处理:对硅片的P面进行硼面扩散;步骤五、二次吹砂:将硼扩处理过的硅片以40-50cmmin的传动速度速进入真空吹砂室中,双面吹扫,以0.9-1.0Kgcm2的压力进行喷砂,完成扩散制程。

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