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一种厚层FRD外延片制备方法 

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申请/专利权人:南京国盛电子有限公司;南京盛鑫半导体材料有限公司

摘要:本发明提供一种厚层FRD外延片制备方法,在外延层生长过程中采用多次升温‑降温工艺,有效释放硅外延片的应力,生产的厚层FRD产品厚度>100μm裂片率降至0.1%以下,其余参数均满足FRD器件的性能指标要求,保证了产品的质量和生产的稳定性,为厚层FRD产品>100μm甚至超厚层FRD产品>150μm的裂纹裂片问题提供了有效解决途径。

主权项:1.一种厚层FRD外延片制备方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、处理基座和硅衬底片;S2、升温并通入H2、硅源和磷掺杂源,在硅衬底片基础上生长第一层掺杂外延层;S3、第一层掺杂外延层生长完成后,均匀降温至设定值,并维持一定时间;S4、均匀升温至第一层掺杂外延层生长温度,并维持一定时间;S5、重复步骤S2-S4,生长若干层掺杂外延层;S6、完成掺杂外延层生长后,降温,依次通入H2、N2吹扫,将外延片取出。

全文数据:

权利要求:

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