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申请/专利权人：深圳市灵明光子科技有限公司
摘要：本发明公开了DToF测距电路和DToF测距芯片，涉及激光测距技术领域，在测距时，由多个触发信号检测模块根据采样时钟，检测SPAD的触发信号，并保存该触发信号的高电平值，之后由累加模块将属于一个像素的同一采样时钟周期内的SPAD触发信号进行累加，得到新的触发累加次数，并由TDC处理单元根据采样时钟记录时间箱的开始到结束时间，之后由第一SRAM根据第一SRAM控制器，按照采样时钟依次读取每个时间箱对应的SRAM地址中的原数据，将新的触发累加次数与原数据累和后再写入每个时间箱对应的SRAM地址中，再由直方图模块根据第一SRAM累和后的数据形成直方图，实现了在多个SPAD被触发时，均可检测、累加并进行直方图统计，其采集和转换效率高，而且抗干扰能力强。
主权项：1.一种DToF测距电路，其特征在于，包括：第一边沿像素的TDC模块、第一SRAM控制器、第一SRAM和直方图模块；其中，所述第一边沿像素的TDC模块包括至少一个像素的TDC模块，1个所述像素的TDC模块包括：多个SPAD的触发信号检测模块，用于根据采样时钟，检测SPAD的触发信号，并保存该触发信号的高电平值，直到将其复位，等待下一次的检测；累加模块，用于将属于一个像素的同一采样时钟周期内的SPAD触发信号进行累加，得到新的触发累加次数；TDC处理单元，用于根据采样时钟，记录时间箱的开始到结束时间；所述第一SRAM控制器，用于控制SRAM的读写；所述第一SRAM，用于根据所述第一SRAM控制器，按照采样时钟依次读取每个时间箱对应的SRAM地址中的原数据，将所述新的触发累加次数与所述原数据累和后再写入每个时间箱对应的SRAM地址中；所述直方图模块，用于根据所述第一SRAM累和后的数据，形成直方图。
全文数据：
权利要求：
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