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一种双栅极场效应晶体管及其制备方法 

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申请/专利权人:湘潭大学

摘要:本发明属于微电子器件技术领域,公开了一种双栅极场效应晶体管及其制备方法。本发明的场效应晶体管包括:衬底自下而上依次设置基底层和第一氧化物层;底部栅极自下而上依次设置第一金属层、第一氧化铪基负电容层及第二氧化物层;半导体层包含源极、沟道、漏极;顶部栅极自下而上依次设置第三氧化物层、第二氧化铪基负电容层及第二金属层。本发明利用两个栅极负电容层的共同作用,实现更强的栅控能力,大幅稳定场效应晶体管的负电容效应,获得更稳定的超低亚阈值摆幅,大幅降低器件工作电压,有望满足先进微电子器件的发展需求。

主权项:1.一种双栅极场效应晶体管,其特征在于,包括:衬底:所述衬底自下而上依次设置有基底层101和第一氧化物层100;底部栅极:所述底部栅极位于所述第一氧化物层100上,所述底部栅极自下而上依次设置有第一金属层123、第一氧化铪基负电容层122以及第二氧化物层121;半导体层:所述半导体层包含源极131、沟道132、漏极133;所述源极131、所述漏极133位于所述第一氧化物层100上,所述沟道132扣合在底部栅极上;顶部栅极:所述顶部栅极位于所述沟道132上,所述顶部栅极自下而上依次设置有第三氧化物层113、第二氧化铪基负电容层112以及第二金属层111;所述源极131和所述漏极133对称设置在所述沟道132的两侧并延伸至所述沟道132,使所述源极131、所述漏极133和所述沟道132连接为一个整体;所述沟道132的凹槽的宽度与所述底部栅极的宽度相互配合;所述底部栅极不覆盖第一氧化物层100的整个表面;所述顶部栅极的投影面积为所述沟道132的投影面积与所述底部栅极的投影面积的重合部分;所述半导体层的材料包括硅、锗、砷化镓、氮化镓、氧化镓、氧化锌、氧化铟锡、碳化硅中的任一种;氧化物层包括第一氧化物层100、第二氧化物层121、第三氧化物层113;金属层包括第一金属层123、第二金属层111;基底层的厚度为50μm~0.5mm,氧化物层的厚度为10nm以下,金属层的厚度为10~40nm,半导体层的厚度为1~100nm;所述第一氧化铪基负电容层122与所述第二氧化铪基负电容层112的厚度独立的为1~40nm。

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