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申请/专利权人：爱德万测试公司
摘要：本发明涉及用于校准自动化测试设备ATE以对被测器件DUT进行自动化测试的设备和方法。根据本发明的一个方面，装置10包括：信号提供器，其被配置为生成信号并将信号施加到提供反射的信号路径4；并且包括电路装置，其被配置为确定在信号路径4的信号提供器侧产生的结果信号的信号特征值；其中，装置10被配置为改变所生成的信号的周期；并且其中，装置10被配置为根据针对所生成的信号的不同周期而确定的信号特征值，来获得与信号路径4的电长度TD有关的信息。
主权项：1.一种用于测试被测器件的装置（10），包括：信号提供器，其被配置为生成信号并将所述信号施加到提供反射的信号路径（4）；以及电路装置，其被配置为确定在所述信号路径（4）的信号提供器侧产生的结果信号的信号特征值；其中，所述装置（10）被配置为改变所生成的信号的周期；其中，所述装置（10）被配置为根据针对所生成的信号的不同周期所确定的信号特征值，来获得与所述信号路径（4）的电长度（TD）有关的信息；并且其中，所述电路装置包括：二极管（12），其中，所述二极管（12）的第一端子连接到所述信号路径（4）的信号提供器侧，电容器（14），其连接在所述二极管的第二端子和电压节点（24）之间，放电元件（16），其被配置为使所述电容器放电；以及DC测量单元（18），其被配置为测量所述电容器（14）的端子处的电压。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 爱德万测试公司 用于测试被测器件的装置和方法
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