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具有缓冲层的高质量AlN薄膜及其制备方法与应用 

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申请/专利权人:广州市艾佛光通科技有限公司

摘要:本发明公开了一种具有缓冲层的高质量AlN薄膜及其制备方法与应用,属于半导体材料制备领域,方法步骤包括:在衬底上形成卟啉类化合物涂层作为缓冲层;在缓冲层上物理气相沉积AlN种子层;在AlN种子层上化学气相沉积AlN外延层,得到具有缓冲层的高质量AlN薄膜。本发明首先在衬底制备卟啉类化合物缓冲层,该类化合物为二维层状结构且能与AlN分子的Al形成配位键,能够有效地缓解AlN薄膜与衬底之间的晶格失配与热适配;随后在卟啉类化合物缓冲层上通过PVD沉积AlN种子层,能够为后续AlN的生长提供较好的成核位点;最后通过MOCVD可生长晶体质量高的AlN薄膜。

主权项:1.一种具有缓冲层的高质量AlN薄膜制备方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底上形成卟啉类化合物涂层作为缓冲层;在所述缓冲层上物理气相沉积AlN种子层;在所述AlN种子层上化学气相沉积AlN外延层,得到具有缓冲层的高质量AlN薄膜。

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权利要求:

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