Document
拖动滑块完成拼图
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

待测碳化硅器件的栅极氧化层失效的测试方法和系统 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

申请/专利权人:北京怀柔实验室;北京智慧能源研究院

摘要:本申请提供了一种待测碳化硅器件的栅极氧化层失效的测试方法和系统。该方法根据栅极漏电流映射关系和阈值电压映射关系,确定目标待测碳化硅器件的极限栅压、基准栅极漏电流和目标斜坡电压,从而得以精确地得到判断待测碳化硅器件的栅极氧化层是否失效的所需参数,最后采用基准栅极漏电流和目标斜坡电压,对非目标待测碳化硅器件进行测试,确定非目标待测碳化硅器件的栅极氧化层是否失效,通过判断阈值电压减小和栅极漏电流增大筛选出有栅极氧化层缺陷的器件,从而解决了现有方案缺乏一种高效快速筛选碳化硅器件栅极氧化层失效的方案的问题。

主权项:1.一种待测碳化硅器件的栅极氧化层失效的测试方法,其特征在于,包括:获取栅极漏电流映射关系和阈值电压映射关系,所述栅极漏电流映射关系表征斜坡电压和测试栅极漏电流的关系,所述阈值电压映射关系表征所述斜坡电压和测试阈值电压的关系;根据所述栅极漏电流映射关系和所述阈值电压映射关系,确定目标待测碳化硅器件的极限栅压、基准栅极漏电流和目标斜坡电压,所述极限栅压为施加过的所有的所述斜坡电压中的一个,所述基准栅极漏电流为与所述极限栅压对应的所述测试栅极漏电流,所述目标斜坡电压为与所述极限栅压对应的所述斜坡电压;采用所述基准栅极漏电流和所述目标斜坡电压,对非目标待测碳化硅器件进行测试,确定所述非目标待测碳化硅器件的栅极氧化层是否失效。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京怀柔实验室 北京智慧能源研究院 待测碳化硅器件的栅极氧化层失效的测试方法和系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。